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深圳市德诺嘉电子有限公司

芯片封装测试座

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QFN72烧录座转DIP测试座0.5mm间距烧写座编程座
QFN72翻盖弹片转152测试座产品简介产品用途：编程座、测试座，对QFN72的IC芯片进行烧写、测试适用封装：QFN72引脚间距0.5mm测试 		2019-12-19
QFN52-0.4老化座0.4mm芯片测试座尺寸7*7现货
QFN52-0.4翻盖弹片测试座/老化座产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN52的IC芯片进行老化、测试适用封装:QFN52引脚间距0.4mm 		2019-12-19
QFN20-0.4翻盖弹片老化座3*3mm
QFN20-0.4翻盖弹片测试座产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN20的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN20 引脚间距0.4mm测试座: 		2019-12-06
QFN28 烧录座 0.5间距
QFN28-0.5翻盖弹片烧录座产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN28的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN28引脚间距0.5mm测试座:Q 		2019-12-06
新款QFN40烧录座0.4间距翻盖编程座双层板
QFN40-0.4翻盖弹片烧录座（双层转板 直插编程器锁紧座）产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN40的IC芯片进行烧写、测试适用封 		2019-12-06
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