技术参数
型号 |
QuaNix 4200 |
QuaNix 4500 |
基体 |
Fe磁性 |
Fe/NFe磁性非磁性 |
探头形式 |
一体 |
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显示 |
LCD数字显示 |
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测量范围 |
0-3000μm |
Fe:0-3000μm NFe:0-2000μm |
测量精度 |
0-50μm:≤±1μm, 50-1000μm:≤±1.5%, 1000-2000μm:≤±2%,2000-5000μm≤±3% |
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显示精度 |
1μm |
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工作温度 |
-10-+60℃ |
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温度补偿 |
0-50℃ |
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最小基体 |
10mm×10mm |
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最小曲率 |
凸、凹半径:3mm/25mm |
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最薄基体 |
Fe:0.2mm,NFe:0.05mm |
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电源 |
5号电池2节 |
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重量 |
110g |
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尺寸 |
110×60×27mm |
特点:
零位稳定:
所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位,
可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。
仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。
一台好的测厚仪校零后,可以长时间保持零位不漂移,
确保准确测量
温度补偿:
涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术,以保证不同温度下的测量精度。
红宝石探头:
探头接触点的耐磨性直接影响测量的精度。普通金属接触探头,其表面磨损后会带来很大的误差。
独特的直流采样技术:
使得测量重复性较传统交流技术有无可比拟的优越和提高