日立仪器X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪快速可靠的X射线荧光镀层厚度测量及材料分析，低成本，高效率。特别适合：PCB行业，电镀行业等做精密无损测试。可测镀金，银，铜，锡，及稀有金属等。
X-Strata920镀层测厚仪特点及优势：
1、测量元素范围：钛Ti22-铀U92；
2、测量5层（4层镀层+底材层），同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；
3、测量精度高、稳定性好，测量结果精确至uin；
4、快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果；
5、可分析固体、液体，定性、半定量和定量分析；
6、可进行贵金属检测，如Au Karat评价；
7、材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；
8、X-Strata920拥有先进的安全系统。
镀层测厚仪使用方法：
第一步：将产品放置在样品台上，无损分析，无需样品制备，开槽式样品仓便于放置产品，超大样品台便于大面积产品（如：PCB）测量，配备了门开闭传感器，增强了安全性。
第二步：一键完成视频聚焦，避免人为操作误差标配固定焦距12.7mm，选配变焦，高分辨率，高放大倍率的彩色数码影像装置，画面清晰测试点精确定位；放大倍数30倍（标配），50倍（选配）自动台：利用可编程XY样品台和Z轴 实现单次或多次分析操作，简单快速的多点分析。
第三步:点击“GO”一键完成测量，几秒内显示结果，保存、打印或传输结果，测试结果可一键导出PDF（标配）、Excel（选配）。使用预备和客户自定义的报告模板。
