分辨率0.1um纸张薄膜 测厚仪
什么是薄膜测厚仪，顾名思义就是检查材料厚度大小的测量设备，只不过相比较普通的测厚仪，薄膜测厚仪在测量对象上会比较特殊，主要针对的是比较薄的材料实现厚度测量，类似于金属箔片、塑料膜、线路元件等，因检测厚度精准度高，所以被广泛的使用在航天航空、电镀、轻工、塑料生产、汽车制造、化工等领域。
分辨率0.1um纸张薄膜 测厚仪，又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等，薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
技术特征
微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看
严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差
支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择
系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可自行设定
实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据
支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果
标准的USB接口，方便系统与电脑连接和数据传输
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技术指标 测试范围 ：0～2 mm（常规）、0～6 mm、12 mm（可选） 分 辨 率 ：0.1 μm 测量速度 ：10 次/min （可调） 测试压力 ：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张） 接触面积 ：50mm²（薄膜）；200mm²（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制 进样步距 ：0～1000 mm 进样速度 ：0.1～99.9 mm/s 电源 ：AC 220V 50Hz 外形尺寸 ：461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H) 净重 ：32 kg |
