Testram 半导体测试机V777
◆ 产品介绍:
◆ Test Rate 10MHz
◆ 128 I/O Pin
◆ 4 個同時測定
◆ 省空间、低耗电
◆ 主要構成機器
◆ TESTER 本体
外形寸法:532W×692H×750D
重量:約100kg
◆测试标题
外形寸法:430W×271H×511D
重量:約50kg
◆ TESTER CONTROLLER
本体: PC-AT 互換機
PROCESSOR: x86 系
储存容量: 512MB
硬盘容量: C DRIVE(驱动盘) 30GB D DRIVE 40GB 以上(内蔵)
INTERFACE: Ethernet、GPIB(OPTION)
操作系统: Windows XP
◆系统操作
◆ PINELECTRonICS 128I/Opin
DRIVER 输出電圧範围 -2V ~ +11V
输出電圧分解能 2.5mV
水准选择 4 組
Timing 分解能 1nS
波道間 SKEW ±1nS
波形操纵 FIXHi, FIXLo, NRZ, INV NRZ, RZ,INV RZ, R1, EXOR, INV EXOR
Comparator 输入電圧範围 ±45V/ ±10V
比較電圧分解能 3.0mV(20mV/45V Range)
判定水准 2 組(VOH, VOL)
Timing 分解能 1nS
PIN 間 SKEW ±10nS
Dynamic Load(optional)
Load 電流設定範围 ±1mA ~ ±25mA
Load 電流設定分解能 12.2uA
電圧設定範围 -2V ~ +8V
電圧設定分解能 2.4mV
Load 電流选择 2 組
水准选择 2 組
◆ Timing 发生器
周期設定 100nS~1.3mS
設定分解能 1nS
周期設定数 8 組
◆ Pattern 发生器
Memory 容量 1M(4M)
◆ DPS(Device 用電源) 4 電源/Unit, 2Unit 实装可能
VFIM Mode 印加電圧 3 Range ±4v/8V/40V
分解能 12 Bit
測定電流 6 Range 4uA/40uA/400uA/4mA/40mA/400mA
電流Clamp 根据各電流測定Range 的値+10%而Range Clamp
◆ PMU(DC 測定Unit) 4 電源/ Unit 4Unit 实装可能
VFIM Mode 印加電圧 3 Range ±4V/8V/40V
分解能 16 Bit
測定電流 6 Range 4uA/40uA/400uA/4mA/40mA/400mA
分解能 16 Bit
電流Clamp 根据各電流測定Range 的値+10%而Range Clamp
IFVM Mode 印加電流 6 Range 4uA/40uA/400uA/4mA/40mA/400mA
分解能 16 Bit
測定電圧 3 Range ±4V/8V/40V
分解能 16 Bit
VM Mode (電圧測定) 输入电阻 100MΩ以上
測定 Range 3 Range ±4V/8V/40V
分解能 16 Bit
◆ 用户用電源
+5V, +12V, +15V, +13V, -15V, -2V(各電源共最大1A 供給)
◆ RELAY ConTROL 信号 64 Bit(16 Bit /Pin extension Board)
可容電圧範围 40V
シンク電流 50mA
输出 渡过Open collector(没有Collector clamp diode)
◆ Handle/Prober Interface
Interface Board 之外通过GPIB Interface?Board
(Option)操作也是可能的